Allgemein
- Mikroskopische Untersuchung rauer und glatter Oberflächen
- Schnelle Messungen im Sekundenbereich
- Schnelles Umschalten auf verschiedene Objektive
- Laterale Auflösung ca. 1 µm
- Vertikale Auflösung < 1 nm
- Messergebnis unabhängig von Farbe und Material der Oberfläche
- Wartungsfreiheit und robuster Aufbau prädestinieren den Einsatz in der Fertigung
Dieses Meßinstrument ist in mehreren Ausführungen und mit weiteren Optionen lieferbar. Als preisgünstige Meßanlage für Standardan-wendungen; mit Interferenz- und Standardobjektiven zur Nutzung als normales Mikroskop; mit zusätzlichem optischem konfokalem Punktsensor zur Oberflächenprofilerfassung größerer Flächen; mit einem Rauheitsmeßtaster zum Vergleich der optischen mit einer taktilen Messung nach gängiger Norm; mit Lichtquellen unterschiedlicher Farbe; mit Präzisionsverfahrschlitten oder luftgelagerten Schlitten; mit xy- oder Rundtisch; mit einer Kamera gemäß kundenspezifischer Meßaufgabe; mit vollautomatischem Probenjustiertisch.
Gerne beraten wir Sie unverbindlich.
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